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Diese Bachelorarbeit vergleicht zwei Wafer-ID-Lesesysteme in der Halbleiterproduktion – den speziell für diese Branche entwickelten automatischen Wafer-Mapper (BCLS) und einen klassischen Barcode-scanner. Die Hypothese lautet, dass der Wafer-Mapper aufgrund seiner speziellen Entwicklung für die Halbleiterfertigung effizienter und wirtschaftlicher ist. Untersucht werden sowohl technische Aspekte (Genauigkeit, Zuverlässigkeit, Geschwindigkeit und Integrationsfähigkeit) als auch wirtschaftliche Faktoren (Investitions- und Betriebskosten, Wirtschaftlichkeit) sowie Bedienerfreundlichkeit und Fehleranfälligkeit. Der Wafer-Mapper verarbeitet alle Wafer eines Carriers automatisch nacheinander, nutzt dabei Kamera- und RFID-Technologie zur eindeutigen Identifikation und protokolliert jede Wafer Einheit. Dadurch wird eine vollständige und fehlerarme Datenerfassung gewährleistet. Im Gegensatz dazu erfasst der Barcode-scanner typischerweise nur den ersten Wafer eines Carriers, was zu einem erhöhten Risiko von Losverwechslungen führt. Die Arbeit zeigt Vor- und Nachteile beider Ansätze auf und ermöglicht so eine datenbasierte Entscheidungsgrundlage für die Wahl des jeweils geeigneten Lesesystems unter Abwägung von Effizienz und Wirtschaftlichkeit in der Halbleiterfertigung.

This bachelor thesis compares two wafer-ID reading systems in semiconductor manufacturing: the Wafer-Mapper (BCLS), which is specifically developed for this industry, and a conventional Barcode scanner. The study examines technical aspects (accuracy, reliability, speed and compatibility) as well as economic factors (investment and operational costs, cost efficiency) and user-friendliness and error susceptibility. The Wafer-Mapper automatically processes all wafers in a carrier sequentially, using integrated camera and RFID technology for unambiguous identification, thereby ensuring complete and reliable data capture. In contrast, the handheld scanner typically reads only the first wafer of a carrier, which increases the risk of lot misidentification. Thus, the Wafer-Mapper offers higher quality reading and lower error rates. The analysis highlights the advantages and limitations of both approaches and provides a data-driven basis for selecting the most suitable system, balancing efficiency and economic considerations in wafer fabrication.